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[Sieve] L3P용 Precision Sieve 사용시 주의사항
작성자 : 삼보과학   작성일 : 2011-04-05   조회수 : 4208
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ATM Precision Sieve는 electroformed nickel mesh로 만들어지기 때문에 손상이 잘 된다. 그래서 사용시 특별한 주의가 요구된다. 사용자는 다음 사항을 준수함으로써 sieve의 수명을 최대한 연장시킬 수 있다.

1. 120 ℉이상의 온도나 빛에너지에 노출시키지 않는다.

2. 처음으로 테스트를 하는 경우에는 샘플양을 최대 2cc로 한정한다. 경험이 쌓이면 물질에 따라 더 많은 양을 사용할 수도 있다. 그러나, 샘플분량은 질량으로 2g, 부피로 4cc를 절대로 초과하지 않아야 한다.

3. 테스트를 시작할 때는 sift amplitude를 0에 맞추고, 샘플이 screen 표면 위로 최대 1/4" 까지 뛸 때까지 amplitude 세기를 점진적으로 증가시킨다.

4. 절대로 sieve mesh를 손가락으로 만지지 않아야 한다. 그 외의 다른 종류의 물리적 접촉도 mesh에 손상을 줄 수 있으므로 주의하도록 한다. 구멍에 낀 입자를 제거하려고 바늘이나 날카로운 것을 사용하지 않아야 한다. 솔(brush)을 사용하지 않아야 한다. 또한 sieve에 낀 입자를 제거하려고 air compressor를 사용하지 않아야 한다.

5. 30um 이하영역에서 체분리를 할 때는 하나의 precision sieve만을 사용하도록 한다.

6. sieve는 150W 이하의 초음파 세척기에서 클리닝하도록 한다. 초음파 세척기에서 사용할 물과 세제의 온도는 24℃ - 27℃ 정도가 적당하다. 세척 후에는 깨끗한 수돗물로 헹군다.

7. 세척한 sieve는 공기 중에서 건조시킨다. 건조를 시키기 위해 열을 가하거나 air compressor를 사용하지 않아야 한다.

8. 사용 후에는 반드시 제공된 플라스틱 상자에 넣어 보관한다.

(자료제공 : Advantech Manufacturing)
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